微量實(shí)驗室天平的可讀性為0.001 mg | 1 µg，量程范圍介于3.1 g至111 g之間。

探索微量實(shí)驗室天平

您是否對分析結果的準確度有著(zhù)*的要求？在分析稱(chēng)重測量中獲得高質(zhì)量結果，可讀性高達0.001 mg|1 μg。賽多利斯微量實(shí)驗室天平的量程介于1.1 g至110 g之間，可精密稱(chēng)定小量的重量

Cubis® II微量天平：可配置天平

Secura®微量天平：安全、可靠以及合規的實(shí)驗室天平

用于高精度測量的高等級材料鈦

賽多利斯微量實(shí)驗室天平憑借其*的鈦質(zhì)稱(chēng)重盤(pán)作為標準配置，彰顯出非凡的魅力。賽多利斯微量天平的鈦質(zhì)部件無(wú)磁，與腐蝕性物質(zhì)接觸時(shí)保持惰性，因此可確保為稱(chēng)重提供保護。

防風(fēng)保護

為減少環(huán)境影響，避免降低稱(chēng)量結果的可靠性，所有微量天平均配備了具有學(xué)習功能和照明燈的手動(dòng)防風(fēng)罩、自動(dòng)防風(fēng)罩或無(wú)接觸防風(fēng)罩，或用于濾膜稱(chēng)量應用的不銹鋼防風(fēng)罩